1. Monographien/ ReviewsG. Grathwohl, J. Woltersdorf, A. Hähnel, M. Kuntz, E. Pippel, R. Schneider:
Bildung, Struktur, Nanochemie und Funktion von Grenzschichten in keramischen Faserverbundwerkstoffen, Fortschritt-Berichte VDI Reihe 5 Nr. 453, VDI-Verlag, Düsseldorf, 1996
J. Woltersdorf, E. Pippel, A. Hähnel, R. Schneider:
Struktur, Funktion und Nanochemie von Grenzschichten in Verbundwerkstoffen, In: Verbundwerkstoffe und Werkstoffverbunde, Bayreuth, 24.-25. 10. 1995, Hrg. G. Ziegler, DGM-Verlag, Oberursel, 1996, S. 215 -227
H.-P. Abicht, D. Völtzke, A. Röder, R. Schneider, J. Woltersdorf:2. Zeitschriften und Arbeiten in Internationalen Tagungsbänden
The influence of the milling liquid on the properties of barium titanate powders and ceramics, J. Mater. Chem. 7 (1997), 487 - 492
G.Bärwolff, F.König, G.Seifert:
Thermal buoyancy convection in vertical zone melting configurations , Z. f. angew. Mathematik u. Mechanik (ZAMM) 1996 (akzeptiert im Juli ‘1996)
J. Doerschel, I. Hähnert, R. Uecker:
The origin of imperfections in á 100ñ SrLaAlO4 crystals, Acta Physica Pol. A (in press)
A. Hähnel, E. Pippel, R. Schneider, J. Woltersdorf, D. Suttor:
Formation and structure of reaction layers in SiC/glass and SiC/SiC composites, Composites 27A (1996), 685 - 690
H Kirmse , I. Hähnert, W. Neumann and R. Schneider:
TEM-investigation of ZnSe/Zn0,8Cd0,2Se/ZnSe films grown on GaAs(100) by MBE, Proc. 11th Eur. Congr. Electr. Microsc., 26.-30. 08. 1996, Dublin
H. Kirmse, I. Hähnert, W. Neumann:
Thermal stability of ZnSe/Zn0,8Cd0,2Se/ZnSe interfaces grown by MBE, Micro Mat 97, 16.-18.4.1997, Berlin
F.König, G.Bärwolff:
Flow modes in vertical molten zones of Bi-Sb-Te: Influence of geometry, Prandtl number and g-level" , COSPAR-Assembly Birmingham UK July 1996, Manuscript G0.1-0004 (Proceedings in Druck)
W. Kraak, A. Krapf, N. Pruss, G. Neubert, S. Rogaschewski, I. Hähnert, W. Wilde, P. Thiele:
Growth, characterization, and physical properties of Bi-Sr-Ca-Cu-O uperconducting whiskers, phys. stat. sol. (a) 158 (1996), 183-203
E. Langer,F. Altmann, D. Katzer, W. Neumann:
Strain measurement by means of convergent beam electron diffraction in submicron volumes, Micro Mat 97, 16.-18.4. 1997, Berlin
W.Neumann:
Crystallography of boundaries and interfaces, Acta Phys. Pol. A 89 (1996), 195-207
W. Neumann, H. Hofmeister, D. Conrad, K. Scheerschmidt, S. Ruvimov:
Characterization of interface structures in nanocrystalline germanium by means of high-resolution electron microscopy and molecular dynamics simulations, Krist. 211 (1996), 147-152
W. Neumann, H. Hofmeister:
Structural characterization of nanosized CdTe particles by means of HREM, Proc. 11th Eur. Congr. Electr. Microsc., 26. - 30. 08. 1996, Dublin,
M. Schenk, I. Hähnert, L. T. H. Duong, H.-H. Niebsch:
Validity of the lattice-parameter Vegard-rule in Cd1-xZnxTe solid solutions, Cryst. Res. Technol. 31 (1996), 665-672
R. Schneider, J. Woltersdorf, O. Lichtenberger:
ELNES across interlayers in SiC(Nicalon) fibre-reinforced Duran glass, J. Phys. D: Appl. Phys. 29 (1996), 1709 - 1715
R. Schneider, O. Lichtenberger, J. Woltersdorf:
Phase identification in composite materials by EELS fine-structure analysis, J. Microsc. (London) 183 (1996), 39 - 44
R. Schneider, J. Woltersdorf, A. Röder:
Chemical-bond characterization of nanostructures by EELS, Mikrochimica Acta Suppl. 13 (1996), 545 - 552
R. Schneider, J. Woltersdorf, A. Röder:
EELS nanoanalysis for investigating both chemical composition and bonding of interlayers in composites, Mikrochimica Acta 125 (1997), 361 - 365
R. Schneider, F. Syrowatka, A. Röder, H.-P. Abicht, D. Völtzke, J. Woltersdorf:
Identification of barium titanate phases by ELNES fingerprints, Proc. 11th Eur. Congr. Electr. Microsc., 26.-30. 08. 1996, Dublin, T11-34 (CD-ROM)
I. Utke, W. Frentrup, I. Hähnert, H. Kirmse, O. Müller, M. Schenk, M. Winkler:
Non-abruptness of heterointerfaces during LPE growth of (Hg,Cd)Te on Cd(Te,Se) substrates, J. Cryst. Growth 162 (1996), 126-134
Eingereicht
H.-P. Abicht, D. Völtzke, R. Schneider, J. Woltersdorf, O. Lichtenberger:
Core-shell structures of barium-titanate powders - morphology and microchemistry, VIth Eur. Conf. Solid State Chemistry, 17.-20. 09. 1997, Zürich, Abstract
A. Hähnel, E. Pippel, A. Feldhoff, R. Schneider, J. Woltersdorf:
Reaction layers in MMCs and CMCs: structure, composition and mechanical properties, Materials Science and Enginieering A (1996), accepted July 1996
W. Neumann, H. Kirmse, I. Hähnert, R. Schneider:
Investigations of interface structures of heteroepitaxial semiconductor systems, Int. Crystallographic Meeting, 24.-28. 08. 1997, Lissabon, Abstract
R. Schneider, E. Pippel, J. Woltersdorf, S. Strauß, H.J. Grabke:
Microprocesses of metal dusting on nickel and Ni-base alloys, Steel Research, submitted March 1997
3. Tagungsbände (national)
J. Doerschel, I. Hähnert, R. Uecker:
TEM-Untersuchung von Fremdphasen in SrLaAlO4-Einkristallen,Jahrestagung DGK, Suppl. Z. Krist. 11 (1996), 14
I. Dohnke, M. Mühlberg, W. Neumann:
Crystal growth of ZnSe from different high-temperature solutions,
Jahrestagung DGKK/AIC-SCC, Coll. Abstracts P29, Freiburg, 5.-7.3. 1997
I. Hähnert, Hai Duong, C. Silber, M. Schenk:
Zusammensetzungsabhängige Änderung der Härte bei Mischkristallen von II-VI-Verbindungen, 5. Jahrestagung DGK, Suppl. Z. Krist. 12 (1997), 243
H. Kirmse, I. Hähnert und W. Neumann:
TEM-Untersuchungen zur thermischen Stabilität von MBE-gewachsenen ZnSe\Zn0,8Cd0,2Se-Strukturen auf GaAs, 5. Jahrestagung DGK, Suppl. Z. Krist. 12 (1997), 113
H. Kirmse, J. Griesche und W. Neumann:
Computergestützte Entfaltung digitaler EDXS-Linienscans im Nanometerbereich, 5. Jahrestagung DGK, Suppl. Z. Krist. 12 (1997), 238
H. Kleessen, S. Penzel, W. Neumann:
Growth of gradient crystals for X-ray monochromators by means of the gradient projection method, Jahrestagung DGKK/AIC-SCC, Coll. Abstracts V4, Freiburg, 5.-7.3. 1997
R. Schneider:
Möglichkeiten der Analyse der chemischen Bindung in Nanometerbereichen mittels EELS, Veröff. 17. Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises "Rastermikroskopie in der Material-prüfung" des Deutschen Verbandes für Materialforschung und -prüfung, 27.-29. 03. 1996, Halle, DVM-Bericht 517, S. 113 - 118
Eingereicht
I. Hähnert, H. Kirmse, R. Schneider, W. Neumann, M. Kappelt, D. Bimberg:
TEM-Charakterisierung von Quantenfäden in V-strukturiertem InP, Dreiländertagung Elektronenmikroskopie, 07.-12. 09. 1997, Regensburg, Abstract
H. Kirmse, I. Hähnert, R. Schneider, W. Neumann:
Elektronenmikroskopische Untersuchungen von Grenzflächenstrukturen hetero-epitaktischer II-VI-Halbleiterverbindungen, Dreiländertagung Elektronenmikroskopie, 07.-12. 09. 1997, Regensburg, Abstract
R. Schneider, D. Völtzke, H.-P. Abicht, W. Neumann, J. Woltersdorf:
Mikrochemische Charakterisierung "core-shell"-strukturierter BaTiO3-Teilchen mittels EELS, Dreiländertagung Elektronenmikroskopie, 07.-12. 09. 1997, Regensburg, Abstract
D. S. Su, W. Neumann, R. Hunger, M. Giersig:
Defect structure of In-rich (Cu,In)S2 epitaxial films, Dreiländertagung Elektronenmikroskopie, 07.-12. 09. 1997, Regensburg, Abstract
4. Vorträge, Poster
S. Boeck:
Möglichkeiten der Nutzung des Computerlabors der AG Kristallographie, Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, (V)
J. Doerschel, I. Hähnert, R. Uecker:
TEM-Untersuchung von Fremdphasen in SrLaAlO4-Einkristallen, 4. Jahrestagung DGK, 11.-14.3. 1996, Marburg (P)
I. Dohnke, M. Schenk:
THM-Kristallzüchtung von ZnSe, DFG-Tagung II-VI-Halbleiter, 22./23.6.1996, Bad-Honnef, (P)
I. Dohnke:
Züchtung von ZnSe-Kristallen unter Verwendung von PbCl2 als Lösungsmittel Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, 11.07.1996 (V)
I. Dohnke, M. Mühlberg, W. Neumann:
Crystal growth of ZnSe from different high-temperature solutions, Jahrestagung DGKK/AIC-SCC, 5.-7.3. 1997, Freiburg, (P)
A. Engel:
NIR-Mikroskopie von Einschlüssen in CdTe- und (Cd,Zn)Te-Einkristallen., Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, (V)
A. Engel, A.Grochocki:
NIR-Mikroskopie von Einschlüssen in Cd- und (Cd,Zn)Te-Einkristallen, Jahrestagung DGKK, 6.-8.3.1996, Köln, (P)
I. Hähnert, H. Kirmse, O. Müller, W. Neumann:
Vergleichende EDXS-Untersuchungen von Konzentrationsprofilen Ar-Ionenstrahl-gedünnter und gespaltener LPE-Probe, Workshop des Arbeitskreises Elektronenmikroskopie der DGK, 10.-11.10.1996, Darmstadt (V)
I. Hähnert:
Elektronenmikroskopische Untersuchungen oxidischer Materialien, Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, 16.01.1997 (V)
I. Hähnert, Hai Duong, C. Silber, M. Schenk:
Zusammensetzungsabhängige Änderung der Härte bei Mischkristallen von II-VI-Verbindungen 5. Jahrestagung DGK, 10.-12.3.1997 Hamburg (P)
H. Kirmse, I. Hähnert und W. Neumann:
TEM-Untersuchungen zur thermischen Stabilität von MBE-gewachsenen ZnSe\Zn0,8Cd0,2Se-Strukturen auf GaAs, 5. Jahrestagung DGK, 10.-12.3.1997, Hamburg (P)
H. Kirmse, J. Griesche und W. Neumann:
Computergestützte Entfaltung digitaler EDXS-Linienscans im Nanometerbereich 5. Jahrestagung DGK, 10.-12.3.1997, Hamburg (P)
H. Kirmse, I. Hähnert, W. Neumann, R. Schneider:
TEM-investigation of ZnSe/Zn0,8Cd0,2Se/ZnSe films grown on GaAs(100) by MBE, Tagung des Sonderforschungsbereiches 410, 28.-29.10. 1996, Würzburg (P)
H. Kirmse:
TEM Untersuchungen an MBE ZnSe/Zn0,8Cd0,2Se/ZnSe-Schichten auf (100)-orientierten GaAs-Substraten, Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, 20.06.1996 (V)
H. Kirmse, I. Hähnert, W. Neumann:
Thermal stability of ZnSe/Zn0,8Cd0,2Se/ZnSe interfaces grown by MBE, Micro Mat 97, 16.-18.4. 1997, Berlin (P)
H. Kleessen:
Segregation und konstitutionelle Unterkühlung beim Gradientenprojektionsverfahren, Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, 27.6. 1996 (V)
H. Kleessen, S. Penzel, W. Neumann:
Growth of gradient crystals for X-ray monochromators by means of the gradient projection method, Jahrestagung DGKK/AIC-SCC, 5.-7.3. 1997, Freiburg (V)
E. Langer,F. Altmann, D. Katzer, W. Neumann:
Strain measurement by means of convergent beam electron diffraction in submicron volumes, Micro Mat 97, 16.-18.4.1997, Berlin (P)
W. Neumann:
Behandlung kristallographischer Probleme mit der Elektronenmikroskopie, Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, 30.5.1996 (V)
W. Neumann:
Elektronenmikroskopische Strukturuntersuchungen kristalliner Phasen im nm-Bereich, Institut für Angewandte Chemie, Berlin Adlershof, (ACA-Seminar) 26.6.1996 (V, invited)
W. Neumann:
Elektronenmikroskopische Untersuchungen an Nanokristallen, Kristallographisches Seminar, Albert-Ludwigs-Universität Freiburg, 9.7.1996 (V, invited)
W. Neumann, H. Hofmeister:
Structural characterization of nanosized CdTe particles by means of HREM, Symposium M8: Ill-defined structures, EUREM´96, 26.-30.8.1996, Dublin,
W. Neumann:
Elektronenmikroskopische Strukturuntersuchungen von Nanokristallen, Physikalisches Kolloquium Humboldt-Universität zu Berlin, 5.11.1996 (V, invited)
W. Neumann:
Strukturuntersuchungen von Nano-Kristallen mittels Hochauflösungs-Elektronenmikroskopie und Elektronenbeugung, Abteilungsseminar MPI für Festkörperforschung (Festkörperchemie: Prof. Simon) Stuttgart, 18.11.1996 (V, invited)
W. Neumann:
Nanometerstrukturen im TEM - Experiment und Simulation, Kolloquiumsvortrag Institut für Festkörper- und Werkstofforschung Dresden, 11.12.1996 (V, invited)
W. Neumann:
Quasikristalle - eine neue Klasse von Materialien, Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, 13.2.1997 (V)
St. Penzel:
Der Deltakristall - Idee und Stand der Realisierung, Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, 11.7.1996 (V)
S. Penzel, H. Kleessen:
Züchtung von Mischkristallen mit programmierter Konzentrationsverteilung, Nationale Schule für Kristallzüchtung, 09.-13.9.1996 Gosen, (P)
R. Schneider:
Möglichkeiten der Analyse der chemischen Bindung in Nanometerbereichen mittels EELS, 17. Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises "Rastermikroskopie in der Materialprüfung" des Deutschen Verbandes für Materialforschung und -prüfung, 27. 03. 1996, Halle (V)
R. Schneider, E. Pippel, J. Woltersdorf, H.J. Grabke, S. Strauß:
Mikroprozesse des metal dusting von Nickel und Nickelbasiswerkstoffen und ihre Untersuchung mittels analytischer TEM, Zwischenkolloquium der Deutschen Forschungsgemeinschaft zum Schwerpunktthema "Hochtemperaturkorrosion", 16. 04. 1996, Bonn (V)
R. Schneider:
Aussagen zu Bindung und Textur in Grenzschichten durch EELS-Techniken, Klausurtagung des MPI Halle, 04. 06. 1996, Roßbach (V)
R. Schneider:
Hochauflösende analytische Elektronenmikroskopie - Charakterisierung der chemischen Bindung mittels ELNES-Analyse, Keramik-Seminar (SFB 418) am FB Physik der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, 29.11. 1996, Halle (V)
R. Schneider:
Möglichkeiten und Grenzen der analytischen Elektronenmikroskopie, Materialwissenschaftlich-Kristallographisches Seminar, Humboldt-Universität zu Berlin, 19.12. 1996, Berlin (V)
R. Schneider:
Charakterisierung der chemischen Bindung von Nanostrukturen durch ELNES-Analyse, Fachgruppenseminar der FG "Oberflächen- und Grenzflächenphysik" am FB Physik der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, 09.01. 1997, Halle (V)
R. Schneider :
Electron Energy Loss Near-Edge Spectroscopy, Institutsseminar des Institutes für Festkörper- und Werkstofforschung, 07.02. 1997, Dresden (V, invited)
S. Storm, A. Engel:
Beiträge zur Präparation von {100} ZnSe-Substratoberflächen.-, Jahrestagung DGKK, 06.-08.03.1996, Köln (P)
S.Storm, A. Engel:
Präparation von {100} ZnSe-Substratoberflächen.-, DFG-Kolloquium,
22.05.1996, Bad Honnef (P)